金相顯微鏡和渦流涂層測厚儀區(qū)別

金相顯微鏡測厚儀和渦流涂層測厚儀的本質都是測量涂層厚度，那么他們兩者有什么區(qū)別了？

金相顯微鏡測厚儀

它所測量的是局部厚度，同時它是一種有損測量方法，試驗采用金相顯微鏡直接觀察試樣橫斷面的厚度，因此它要求試樣能夠清晰、真實地顯現(xiàn)出陽極氧化膜。這就對試樣的制備提出了很高的要求，需要對試樣進行適當?shù)难心?、拋光和浸蝕處理。

影響精準度的因素存在有，比如表面粗糙度、橫斷面的斜度、覆蓋層變形以及機械加工不好等，都會導致測量結果的偏差。對于待測試樣，其橫斷面必須垂直于待測處理膜，當垂直度偏差10°，則測量值比真實厚度大1.5%。另外，顯微鏡的選擇和操作不當也會影響測量的精度，對于載物臺測微計的目鏡測微計在使用前都必須標定，而儀器的放大倍數(shù)也必須選擇合理，對于待測膜厚，其測量誤差一般是隨放大倍數(shù)減小而增大，一般選擇放大倍數(shù)應使視場直徑為膜厚的1.5~3倍。

采用金相顯微鏡測量處理膜的厚度，對其精度應該有要求，對于顯微鏡及其附件的使用和校準，以及橫斷面的制備方法都應加以選擇，使待測膜厚的誤差在1μm或真實厚度的10%中較大的一個值之內。在良好的條件下，使用一臺金相顯微鏡，本試驗能得到0.8μm的絕對測量精度，當厚度大于25μm時，合理的誤差均為5%或者更小。

渦流涂層測厚儀

儀器原理是通過傳導高頻交流（1MHz以上）的細線線圈在儀器探針的表面產(chǎn)生交變磁場。當探針靠近導電表面時，交變磁場將在該表面上形成渦流?；w材料的特性以及探頭和基體的距離（也即是涂層厚度）會影響渦流的大小。

該渦流又會產(chǎn)生一種相對電磁場，該電磁場可由勵磁線圈或另一個相鄰的線圈感測出來。渦流測厚儀外觀以及操作均類似于電磁感應測厚儀。這類儀器幾乎能夠測量所有非鐵金屬上的涂層厚度。具有精準、快速、無損測量等優(yōu)勢，常用于航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。

總結：

金相顯微鏡測厚儀和渦流涂層測厚儀的區(qū)別在于：

金相測厚儀需要切割，屬于有損測厚，操作較為繁瑣，儀器不便攜帶，對涂層基體無要求。

渦流涂層測厚儀無損測量、測量速度快、便于攜帶、只能測量非鐵金屬上的涂層。